Kategorie produktů

Main menu

EM-Tec CS36/9 C-Square multi pin stub holder for 36x Ø12.7mm or 9 x Ø25.4mm pin stubs, Ø14mm JEOL stub

9 358 CZK / ks
bez DPH 7 734 CZK

Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.

Dostupnost: Na dotaz

Značka: Micro to Nano1

Záruka: 24

Kód produktu: 12-006335

EM-Tec CS36/9 C-Square multi pin stub holder for 36x Ø12.7mm or 9 x Ø25.4mm pin stubs, Ø14mm JEOL stub

EM-Tec C-Square multi pin stub holders jsou určeny hlavně k upevnění více nosičů o průměrech 12,7 a/nebo 25,4mm se standardním pinem Ø 3,2mm. Tyto držáky lze použít také pro stuby s menším nebo větším průměrem. Držáky poskytují optimální pokrytí využitelného prostoru v rozsahu posuvů X-Y stolku. Vygravírované linie usnadňují nastavení směrů posuvu. Pin stuby jsou v pozicích fixovány pomocí speciálních vodivých O-kroužků, které umožňují snadné vkládání a vyjímání nosičů vzorku a zároveň zajišťují jeho vodivé spojení s držákem.

The EM-Tec C-Square multi pin stub holders se dodávají v šesti různých velikostech.

Vlastnosti a výhody držáků EM-Tec C-Square multi pin stub holder:

  • Vodivý O-kroužek pro fixaci nosiče s pinem a jeho snadné vkládání a vyjímání
  • Kompatibilita s nosiči vzorku se standardní pinem i zkráceným pinem (Zeiss) o průměru 3,2mm
  • Pravoúhlé držáky optimalizované pro směry posuvů X a Y
  • Referenční bod v pravém horním rohu
  • Jednoduše programovatelné pozice jednotlivých nosičů (vzorků)
  • Alfanumerická identifikace pozic
  • Vygravírované orientační linie pro usnadnění nastavení směrů X-Y
  • Plně kompatibilní se všemi EM-Tec SEM stage adaptéry
  • Ideální pro automatizovanou SEM/EDX analýzu částic a povýstřelových zplodin
  • Vhodné pro srovnávací a ověřovací aplikace v mikroskopii

Celkové rozměry: 84 x 84mm.

 

TECHNICKÉ PARAMETRY

Toto je místo pro Vaši jakoukoli otázku, nejasnost, nebo upřesnění k tomuto konkrétnímu produktu.

Ověřovací kód
Do košíku

Přihlášení nebo registrace

Růžena Hanžlová

Čechova 448/8, Písek, 397 01

e-mail: obchod.elmi@centrum.cz

telefon/ záznamník / fax: 382 272 210

IČ: 123 95 625 DIČ: CZ5558101846

Naše firma vznikla na počátku devadesátých let minulého století. Fungujeme stále ve stejném složení. Máme odborné zázemí dané několikaletou praxí operátora skenovacího elektronového mikroskopu a hlavně servisního pracovníka elektronových mikroskopů TEM i SEM japonské firmy Jeol s aktivní praxí v trvání téměř 30 let.

V současnosti dodáváme zboží, které mají v nabídce firmy Agar (UK), Plano (DE), Graticules Optics Ltd - dříve PYSER (UK) a Micro to Nano (NL). Jsme neustále v kontaktu i s ostatními výrobci a dodavateli spotřebního materiálu a pomůcek pro všechny obory mikroskopie a portfolio spolupracujících firem se snažíme neustále rozšiřovat.

Zboží můžete vybírat z katalogu pomocí menu a jeho podkategorií. Dále si můžete vyfiltrovat zboží pomocí volby výrobce, dodavatele, nebo přímo vyhledáním konkrétního zboží pomocí vyhledávacího okénka. Zboží si také můžete seřadit podle různých kriterií.

Vytváří StudioMC na systému PublicMC s podporou MediaMC | © PublicMC 2005 - 2024