Kategorie produktů

Main menu

16057 High performance carbon paste, 50 gr.

2 966 CZK / ks
bez DPH 2 451 CZK

Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.

Dostupnost: Na dotaz

Značka: Plano3

Záruka: 24

Kód produktu: 16057

Pasta je tvořena částicemi niklu v anorganickém vodním silikátovém roztoku. Neobsahuje žádné uhlovodíky. Tvoří speciální adhezivní pastu pro náročné aplikace jako je použití při vysokých teplotách (až 2000°C). Ideální pro montáž vzorků na "hot plates, hot stages for FESEM".

Uhlíkové částice tvoří 50 - 60% pevné složky. Pro dosažení dobré tepelné vodivosti a velké pevnosti spoje musí projít kompletní procedurou zpracování:  -- zasychání při pokojové teplotě 2 až 4 hodiny, následně potřebuje zpracování při teplotě 93°C po dobu 2 hodin a nakonec při teplotě 260°C.

 

 

TECHNICKÉ PARAMETRY

Toto je místo pro Vaši jakoukoli otázku, nejasnost, nebo upřesnění k tomuto konkrétnímu produktu.

Ověřovací kód
Do košíku

Přihlášení nebo registrace

Růžena Hanžlová

Čechova 448/8, Písek, 397 01

e-mail: obchod.elmi@centrum.cz

telefon/ záznamník / fax: 382 272 210

IČ: 123 95 625 DIČ: CZ5558101846

Naše firma vznikla na počátku devadesátých let minulého století. Fungujeme stále ve stejném složení. Máme odborné zázemí dané několikaletou praxí operátora skenovacího elektronového mikroskopu a hlavně servisního pracovníka elektronových mikroskopů TEM i SEM japonské firmy Jeol s aktivní praxí v trvání téměř 30 let.

V současnosti dodáváme zboží, které mají v nabídce firmy Agar (UK), Plano (DE), Graticules Optics Ltd - dříve PYSER (UK) a Micro to Nano (NL). Jsme neustále v kontaktu i s ostatními výrobci a dodavateli spotřebního materiálu a pomůcek pro všechny obory mikroskopie a portfolio spolupracujících firem se snažíme neustále rozšiřovat.

Zboží můžete vybírat z katalogu pomocí menu a jeho podkategorií. Dále si můžete vyfiltrovat zboží pomocí volby výrobce, dodavatele, nebo přímo vyhledáním konkrétního zboží pomocí vyhledávacího okénka. Zboží si také můžete seřadit podle různých kriterií.

Vytváří StudioMC na systému PublicMC s podporou MediaMC | © PublicMC 2005 - 2024