Kategorie produktů

Main menu

EM-Tec EDX-Checker S-7 with Ø 25 x10mm JEOL adapter for standard aluminium pin stub

18 695 CZK / ks
bez DPH 15 450 CZK

Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.

Dostupnost: Na objednávku - 4 týdny

Značka: Micro to Nano1

Záruka: 24

Kód produktu: 36-000407-J

EM-Tec EDX-Checker S-7 with Ø 25 x10mm JEOL adapter for standard aluminium pin stub

EM-Tec EDX-Checker S-7 with Ø 25 x10mm JEOL adapter for standard aluminium pin stub

EDX-Checker byl vyvinut jako laciný nástroj pro snadnou kontrolu kalibrace, funkčnosti a rozlišení EDX systémů na SEM. Jeho pravidelné používání zajistí optimální činnost EDX detektoru. EDX-Checker se skládá ze standardního hliníkového nosiče pin-stub, který je osazen Ni-TEM síťkou a referenčními materiály: C, PTFE, Mn, Co, AISI 316L steel, a Al/Cu zalitých do epoxy vhodného do vakua. Osazený hliníkový nosič pin-stub je vyleštěný na hrubost povrchu 0,5 µm a pouhlíkovaný.

Materiál B/N není pouhlíkovaný.

 

Vlastnosti:

  • Rychlá a snadná kalibrace a funkční kontrola
  • Ideální pro EDX systémy od výrobců EDAX, Thermo, Bruker, Oxford Instruments, IXRF, Phenom a JEOL
  • Leštěný povrch – žádné artefakty způsobené topografií referenčních materiálů
  • Dostupný ve dvou variantách
  • Známý a stálý výstupní úhel (leštěný povrch)
  • Hexagonální bílý BN nepotřebuje vodivý povlak uhlíku
  • Kalibrace obrazu v režimu LowMag a X-ray mapování
  • Je kompaktní a laciný
  • Je dostupný na nosiči pin-stub a adaptéry pro mikroskopy výrobců JEOL a Hitachi

Varianty:

  • EDX-Checker S8 s C, PTFE, Mn, Co a Al/Cu jako referenčními materiály, AISI 316L pro kontrolu kvantitativních analýz a Ni-síťkami s hustotami 400 a 1000 mesh pro rychlou kontrolu a kalibraci zvětšení a X-ray mapování. Ideální pro SEm a stolní mikroskopy SEM se systémy EDS.
  • EDX-Checker LE-10 s B/N, C, PTFE, Mn, Co a Al/Cu jako referenčními materiály, AISI 316L pro kontrolu kvantitativních analýz a Ni-síťkou 400 mesk pro rychlou kalibraci zvětšení a kontrolu X-ray mapování. Tato varianta je optimalizována pro kontrolu analýz lehkých prvků.
  • EDX-Checker S7 s C, PTFE, Mn, Co a Al/Cu jako referenčními materiály a Ni-síťkami s hustotami 400 a 1000 mesh pro rychlou kontrolu a kalibraci zvětšení a X-ray mapování. Ideální pro stolní mikroskopy SEM se systémy EDS.

TECHNICKÉ PARAMETRY

Toto je místo pro Vaši jakoukoli otázku, nejasnost, nebo upřesnění k tomuto konkrétnímu produktu.

Ověřovací kód
Do košíku

Přihlášení nebo registrace

Růžena Hanžlová

Čechova 448/8, Písek, 397 01

e-mail: obchod.elmi@centrum.cz

telefon/ záznamník / fax: 382 272 210

IČ: 123 95 625 DIČ: CZ5558101846

Naše firma vznikla na počátku devadesátých let minulého století. Fungujeme stále ve stejném složení. Máme odborné zázemí dané několikaletou praxí operátora skenovacího elektronového mikroskopu a hlavně servisního pracovníka elektronových mikroskopů TEM i SEM japonské firmy Jeol s aktivní praxí v trvání téměř 30 let.

V současnosti dodáváme zboží, které mají v nabídce firmy Agar (UK), Plano (DE), Graticules Optics Ltd - dříve PYSER (UK) a Micro to Nano (NL). Jsme neustále v kontaktu i s ostatními výrobci a dodavateli spotřebního materiálu a pomůcek pro všechny obory mikroskopie a portfolio spolupracujících firem se snažíme neustále rozšiřovat.

Zboží můžete vybírat z katalogu pomocí menu a jeho podkategorií. Dále si můžete vyfiltrovat zboží pomocí volby výrobce, dodavatele, nebo přímo vyhledáním konkrétního zboží pomocí vyhledávacího okénka. Zboží si také můžete seřadit podle různých kriterií.

Vytváří StudioMC na systému PublicMC s podporou MediaMC | © PublicMC 2005 - 2024