Kategorie produktů

Main menu

EM-Tec LAMC-15 Large area magnification calibration standard, mounted on black metal slide

10 044 CZK / ks
bez DPH 8 301 CZK

Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.

Dostupnost: Na dotaz

Značka: Micro to Nano1

Záruka: 24

Kód produktu: 31-T33000-11

EM-Tec LAMC-15 Large area magnification calibration standard, mounted on black metal slide

EM-Tec LAMC-15 Large area magnification calibration standard je navržen pro kalibrace velkých oblastí při malém zvětšení. Je vyroben za použití ultra rovného vodivého křemíkového substrátu s nanesenými jasnými chromovými čarami. Je ideální pro užití v SEM a optické mikroskopii v odraženém světle u následujících aplikací:

  • Kalibrace režimu malého zvětšení u SEM
  • Kalibrace zvětšení přes velké oblasti
  • Měření velikosti částic
  • Měření linearity a reprodukovatelnosti pohybu stolku
  • Pro digitální zobrazovací systémy  

 

EM-Tec LAMC-15 je vhodný pro použití při zvětšeních v rozsahu 5x až 1000x. Na tomto kalibračním standardu jsou následující vzory:

  • Čtvercová síť 15 x 15mm s dělením po 0,01mm
  • Postranní stupnice o délce 15mm s dělením 0,01mm na protějších stranách obrazce
  • Nitkový kříž v každém intervalu 0,1mm
  • Větší nitkový kříž v každém intervalu 1mm

 

Nitkové kříže usnadňují navigaci a testování linearity v režimu malého zvětšení a také hodnocení nežádoucí vůle a mrtvého chodu (motorizovaných) posuvů stolku. Nanesené chromové čáry jsou ve stejné rovině ostření jako substrát, jsou lépe definované a generují lepší signál než vyleptané vzory. Jsou také méně náchylné k usazování částic. Každý kalibrační standard má na substrátu vyleptáno jedinečné seriové číslo a označení produktu. Standardy jsou dostupné v základu jako nenamontované, nebo namontované na několika nejužívanějších typech nosičů SEM vzorků a také na černém kovovém podložním materiálu pro optické mikroskopy (black metal slide). Pokud potřebujete kalibrační standard užívat na několika různých platfomách SEM, lze využít EM-Tec Stub adaptérů. Standard EM-Tec LAMC-15 je dodáván s Certifikátem vysledovatelnosti původu podle NIST.

Specifikace pro EM-Tec LAMC-15 large area magnification calibration standard

Substrát

525 um silná ultrarovná destička křemíku dopovaného bórem s orientací <100>

Vodivost

Vynikající, odpor 5 až 10 Ohmů

Vzory

Čtvercové sítě, čáry, stupnice, poziční údaje na okrajích

Rozměry obrazce

15 x 15 mm

Druh čáry

tloušťka 75um, jasné čáry z čistého chromu

Dělení

0,01mm, 0,1mm a 1,0mm

Rozměry destičky substrátu

17 x 17 mm

Použití

SEM, optická mikroskopie, stereo mikroskopie, optické zobrazovací systémy

Označování

Identifikace produktu a sériové číslo je vyleptáno do substrátu

Montáž

Základ je bez montáže, dodává se také na několika základních typech nosičů preparátu

Balení

Dodává se v Gel-Pack boxu

 

TECHNICKÉ PARAMETRY

Toto je místo pro Vaši jakoukoli otázku, nejasnost, nebo upřesnění k tomuto konkrétnímu produktu.

Ověřovací kód
Do košíku

Přihlášení nebo registrace

Růžena Hanžlová

Čechova 448/8, Písek, 397 01

e-mail: obchod.elmi@centrum.cz

telefon/ záznamník / fax: 382 272 210

IČ: 123 95 625 DIČ: CZ5558101846

Naše firma vznikla na počátku devadesátých let minulého století. Fungujeme stále ve stejném složení. Máme odborné zázemí dané několikaletou praxí operátora skenovacího elektronového mikroskopu a hlavně servisního pracovníka elektronových mikroskopů TEM i SEM japonské firmy Jeol s aktivní praxí v trvání téměř 30 let.

V současnosti dodáváme zboží, které mají v nabídce firmy Agar (UK), Plano (DE), Graticules Optics Ltd - dříve PYSER (UK) a Micro to Nano (NL). Jsme neustále v kontaktu i s ostatními výrobci a dodavateli spotřebního materiálu a pomůcek pro všechny obory mikroskopie a portfolio spolupracujících firem se snažíme neustále rozšiřovat.

Zboží můžete vybírat z katalogu pomocí menu a jeho podkategorií. Dále si můžete vyfiltrovat zboží pomocí volby výrobce, dodavatele, nebo přímo vyhledáním konkrétního zboží pomocí vyhledávacího okénka. Zboží si také můžete seřadit podle různých kriterií.

Vytváří StudioMC na systému PublicMC s podporou MediaMC | © PublicMC 2005 - 2024