Kategorie produktů

Main menu

EM-Tec SB4X small size clear styrene box with 6mm extra hight, for 4 standard ᴓ12,7mm pin stubs

104 CZK / ks
bez DPH 86 CZK

Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.

Dostupnost: Na objednávku - 14 dní

Značka: Micro to Nano1

Záruka: 24

Kód produktu: 13-090005

EM-Tec SB4X small size clear styrene box with 6mm extra hight, for 4 standard ᴓ12,7mm pin stubs

EM-Tec SB4X small size clear styrene box with 6mm extra hight, for 4 standard ᴓ12,7mm pin stubs je pevná schránka z čirého styrenu pro4 standardní nosiče typu pin-stub o průměru 12,7mm. Vnitřní vložka z LDPE drží piny nosičů vzorku. Středový sloupek zabraňuje kontaktu víka se vzorkem. Vnější rozměry jsou 75 x 48 x 28mm. Vnitřní výška umožňuje uchovávat vzorky o maximální výšce 12mm na nosiči pin-stub.

TECHNICKÉ PARAMETRY

Toto je místo pro Vaši jakoukoli otázku, nejasnost, nebo upřesnění k tomuto konkrétnímu produktu.

Ověřovací kód
Do košíku

Přihlášení nebo registrace

Růžena Hanžlová

Čechova 448/8, Písek, 397 01

e-mail: obchod.elmi@centrum.cz

telefon/ záznamník / fax: 382 272 210

IČ: 123 95 625 DIČ: CZ5558101846

Naše firma vznikla na počátku devadesátých let minulého století. Fungujeme stále ve stejném složení. Máme odborné zázemí dané několikaletou praxí operátora skenovacího elektronového mikroskopu a hlavně servisního pracovníka elektronových mikroskopů TEM i SEM japonské firmy Jeol s aktivní praxí v trvání téměř 30 let.

V současnosti dodáváme zboží, které mají v nabídce firmy Agar (UK), Plano (DE), Graticules Optics Ltd - dříve PYSER (UK) a Micro to Nano (NL). Jsme neustále v kontaktu i s ostatními výrobci a dodavateli spotřebního materiálu a pomůcek pro všechny obory mikroskopie a portfolio spolupracujících firem se snažíme neustále rozšiřovat.

Zboží můžete vybírat z katalogu pomocí menu a jeho podkategorií. Dále si můžete vyfiltrovat zboží pomocí volby výrobce, dodavatele, nebo přímo vyhledáním konkrétního zboží pomocí vyhledávacího okénka. Zboží si také můžete seřadit podle různých kriterií.

Vytváří StudioMC na systému PublicMC s podporou MediaMC | © PublicMC 2005 - 2024