Kategorie produktů

Main menu

15470 TEM 4 Grid Holder for SEM, 6mm pin 1ks/bal

17 776 CZK / ks
bez DPH 14 691 CZK

Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.

Dostupnost: Na objednávku - 4 týdny

Značka: Plano3

Záruka: 24

Kód produktu: 15470

15470 TEM 4 Grid Holder for SEM, 6mm pin 1ks/bal

15470 TEM 4 Grid Holder for SEM, 6mm pin. Tento nízkoprofilový držák sítěk TEM je určen pro max. 4 síťky. Ty jsou v pozici fixovány tenkou měděnou pružinou, která zajišťuje větší pozorovací úhel nejen pro pozorování, ale také pro analýzu vzorků na síťce. To je velmi často výhodné pro nanesené filmy nebo malé částice umístěné na síťce s podložním filmem. Je tím výrazně snížen signál pozadí v EDS spektru.

Držák má krátký pin (6mm), jeho průměr je 25,3mm a celková výška (bez pinu) přibližně 3,8 mm.

 

TECHNICKÉ PARAMETRY

Toto je místo pro Vaši jakoukoli otázku, nejasnost, nebo upřesnění k tomuto konkrétnímu produktu.

Ověřovací kód
Do košíku

Přihlášení nebo registrace

Růžena Hanžlová

Čechova 448/8, Písek, 397 01

e-mail: obchod.elmi@centrum.cz

telefon/ záznamník / fax: 382 272 210

IČ: 123 95 625 DIČ: CZ5558101846

Naše firma vznikla na počátku devadesátých let minulého století. Fungujeme stále ve stejném složení. Máme odborné zázemí dané několikaletou praxí operátora skenovacího elektronového mikroskopu a hlavně servisního pracovníka elektronových mikroskopů TEM i SEM japonské firmy Jeol s aktivní praxí v trvání téměř 30 let.

V současnosti dodáváme zboží, které mají v nabídce firmy Agar (UK), Plano (DE), Graticules Optics Ltd - dříve PYSER (UK) a Micro to Nano (NL). Jsme neustále v kontaktu i s ostatními výrobci a dodavateli spotřebního materiálu a pomůcek pro všechny obory mikroskopie a portfolio spolupracujících firem se snažíme neustále rozšiřovat.

Zboží můžete vybírat z katalogu pomocí menu a jeho podkategorií. Dále si můžete vyfiltrovat zboží pomocí volby výrobce, dodavatele, nebo přímo vyhledáním konkrétního zboží pomocí vyhledávacího okénka. Zboží si také můžete seřadit podle různých kriterií.

Vytváří StudioMC na systému PublicMC s podporou MediaMC | © PublicMC 2005 - 2024