Kategorie produktů

Main menu

EM-Tec FG-1 Silicon Finder Grid Substrate with 144 fields of 1x1mm

817 CZK / ks
bez DPH 675 CZK

Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.

Dostupnost: Na dotaz

Značka: Micro to Nano1

Záruka: 24

Kód produktu: 10-008144

 EM-Tec FG-1 Silicon Finder Grid Substrate with 144 fields of 1x1mm

EM-Tec FG-1 Silicon Finder Grid Substrate with 144 fields of 1x1mm je tvořen vodivou ultra hladkou křemíkovou destičkou 12,5x12,5mm, na které je naneseným chromem vytvořen rastr 144 polí 1x1mm. Každé pole je v pravém dolním rohu označeno alfanumerickým kódem. Tento kód je snadno viditelný pomocí lupy, stereomikroskopu, nebo v SEM. Takto vytvořená struktura je odpovídá hustotě 25mesh a je praktickou pomůckou pro větší částice nebo malé vzorky, které lze uložit na separátní pole a všechny najednou vložit např. do SEM. Hodí se např. pro korelativní mikroskopii. Pozici vzorku lze snadno identifikovat. Vlastní substrát má rozměry 12,5x12,5mm. Primárně je tento typ navržen pro použití v SEM, ale najde svoje uplatnění také ve světelné mikroskopii v odraženém světle, či technikách AFM i Auger/SIMS.

Tento produkt má mnohé výhody proti nosičům vzorku s vyrytou mřížkou a běžným měděným "finder grids":

  • Je ultra-plochý, ve srovnání s měděnými síťkami nemá žádné rozdíly ve výšce základní roviny
  • Vzor dělení je snadno viditelný pouhým okem nebo lupou i v SEM a optickém mikroskopu
  • Každé pole má vlastní identifikaci alfanumerickým kódem
  • Při zobrazení v SEM je velmi nízká úroveň signálu pozadí - podobně jako na křemíku
  • Jemné a jasné dělící linie po celé ploše - jemnější než ryté dělení
  • Lze snadno odhadovat velikost vzorku podle rastru 1x1mm
  • Je kompatibilní se stuby Ø12,7mm s pinem, Ø12,2mm JEOL a Ø15mm Hitachi
  • Snadno se upevní na stuby pro SEM a AFM.
  • Vhodný pro užití s technikami SEM, FIB, AFM, LM, XPS/ESCA, SIMS a Auger
  • Opakovatelně použitelný, odolává rozpouštědlům a lze čistit plasmovým výbojem

EM-Tec FG-1 Silicon Finder Grid Substrate je připravován a balen v čistých prostorách a dodává se v Gel-pack boxes.

 

TECHNICKÉ PARAMETRY

Toto je místo pro Vaši jakoukoli otázku, nejasnost, nebo upřesnění k tomuto konkrétnímu produktu.

Ověřovací kód
Do košíku

Přihlášení nebo registrace

Růžena Hanžlová

Čechova 448/8, Písek, 397 01

e-mail: obchod.elmi@centrum.cz

telefon/ záznamník / fax: 382 272 210

IČ: 123 95 625 DIČ: CZ5558101846

Naše firma vznikla na počátku devadesátých let minulého století. Fungujeme stále ve stejném složení. Máme odborné zázemí dané několikaletou praxí operátora skenovacího elektronového mikroskopu a hlavně servisního pracovníka elektronových mikroskopů TEM i SEM japonské firmy Jeol s aktivní praxí v trvání téměř 30 let.

V současnosti dodáváme zboží, které mají v nabídce firmy Agar (UK), Plano (DE), Graticules Optics Ltd - dříve PYSER (UK) a Micro to Nano (NL). Jsme neustále v kontaktu i s ostatními výrobci a dodavateli spotřebního materiálu a pomůcek pro všechny obory mikroskopie a portfolio spolupracujících firem se snažíme neustále rozšiřovat.

Zboží můžete vybírat z katalogu pomocí menu a jeho podkategorií. Dále si můžete vyfiltrovat zboží pomocí volby výrobce, dodavatele, nebo přímo vyhledáním konkrétního zboží pomocí vyhledávacího okénka. Zboží si také můžete seřadit podle různých kriterií.

Vytváří StudioMC na systému PublicMC s podporou MediaMC | © PublicMC 2005 - 2024