642-1AFM 145nm Very High Resolution AFM Reference Standard, na disku ᴓ 12mm
Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.
642-1AFM 145nm Very High Resolution AFM Reference Standard, na disku ᴓ 12mm
642-1AFM 145nm Very High Resolution AFM Reference Standard, na disku ᴓ 12mm
Je to přesný holografický standard určený pro přesnou kalibraci pro vysoká rozlišení a pro měření v nanometrické škále.
Struktura: Hliníkové linie na skle, rozměry 4 x 6 mm. Výška linií (cca 110nm) a šířka linií (cca 75 nm) nejsou kalibrovány
Periodicita vzoru: 145 nm nominálně, přesnost ± 1 nm, jednorozměrné pole. Aktuální parametry daného vzorku jsou uvedeny v přiloženém certifikátu
Využitelná oblast: Kalibrovaný vzor pokrývá celý standard. Využitelná oblast je dostatečně veliká, aby bylo možno provést desítky tisíc měření bez nutnosti použít znovu stejnou oblast, která by mohla být kontaminovaná
AFM: Použitelný pro různé mody, velikost obrazu od 250 nm do 10 um. Dodává se bez montáže, nebo může být místěný na ocelovém AFM disku ᴓ 12 mm.