S629-70AFM Test grating TG3D-3000/20, squares, na AFM disku 12mm
31 910
CZK / ks
bez DPH
26 372
CZK
Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.
S629-70AFM Test grating TG3D-3000/20, squares, na AFM disku 12mm
S629-70AFM Test grating TG3D-3000/20, squares, na AFM disku 12mm
Testovací mřížka TG3D-3000/20 s 3D strukturou je určena pro současnou kalibraci v osách X, Z, a Y, příčnou kalibraci SPM skeneru, detekci jakékoli příčné nelinearity, hystereze, pozvolné deformace a efektu vzájemného ovlivňování.
Struktura: Základová křemíková destička s vsrtvou SiO2, mřížka na horní straně
Typ vzoru: 3D pole malých čtverců
Výška vzoru: 20 ±1.5nm
Rozměr čtverců: 1.5 ±0.15µm
Periodicita: 3 ± 0,05 um
Velikost: 5 x 5 x 0,5 mm
Využitelná oblast: Centrální čtverecová 3 x 3 mm
Poznámka: Základní výška se může od nominální odchylovat až o 10% (příklad: výška vzoru může být 22 ±1.5nm).
TECHNICKÉ PARAMETRY
Další z kategorie
642-1 145nm Very High Resolution AFM Reference Standard, Unmounted
63 721 CZK
bez DPH 52 662 CZK
642-1AFM 145nm Very High Resolution AFM Reference Standard, na disku ᴓ 12mm
75 247 CZK
bez DPH 62 188 CZK
CS-20NG AFM XYZ calibration standard, 20nm Z, unmounted
25 749 CZK
bez DPH 21 280 CZK