Pro test rozlišení (Resolution test specimens)
Nejprodávanějí v kategorii
- Předchozí strana
- 1
- 2
- 3
- 4
S145 SEM medium resolution and grey level test specimen (Al-W dendrites)
S1988 Low kV Sn-C test specimen on 12,5mm pin-stub, l=8mm
EM-Tec Au on C resolution standard 2, 30-300nm, unmounted
S1988E Low kV Sn-C test specimen on 12,5mm JEOL stub
EM-Tec Au on C resolution standard 2, 30-300nm, mounted on Ø12.7mm pin stub
- Předchozí strana
- 1
- 2
- 3
- 4