EM-Tec M-1 calibration standard with 1um grid pattern, unmounted

3 449 CZK / ks

bez DPH 2 850 CZK

Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.

Dostupnost: Na dotaz

Značka: Micro to Nano1

Záruka: 24

Kód produktu: 31-T34000-U

EM-Tec M-1 calibration standard with 1um grid pattern, unmounted

Poslat odkaz příteli

Popis produktu
Parametry
Zeptejte se

EM-Tec M-1 calibration standard with 1um pitch grid pattern má rozteč čar 1um a další zvýrazněné čáry s roztečí 10 a 100 um. Hodí se pro kalibraci zvětšení a kontrolu zkreslení obrazu SEM pro zvětšení v rozmezí 100x až 10000x. Je také možnost umístit pozorovaný vzorek přímo na mřížkový vzor pro okamžitou kalibraci rozměrů zkoumaného předmětu. V takovém případě se mřížkový vzor zobrazuje na pozadí a lze přímou kalibraci zaznamenat na obraze. To je zvláště výhodné pro malé vzorky a prášky.

Specifikace pro EM-Tec M-1 calibration standard with 1um pitch grid pattern

Substrát	525 um silná ultrarovná destička křemíku dopovaného bórem s orientací <100>
Vodivost	Vynikající, odpor 5 až 10 Ohmů
Rozměry obrazce	3 x 3 mm
Rozteč/přesnost	1um ± 0,025um; 10um ± 0,025um; 100um ± 0,25um
Druh čáry / hloubka	Leptaná v křemíku, hloubka 300nm ± 30nm
Toušťka čáry	200nm ± 10nm pro čáry s roztečí 1um
	300nm ± 15nm pro čáry s roztečí 10um
	400nm ± 20nm pro čáry s roztečí 100um
Kolmost	Lepší než 0,01°
Značení	Okrajové stupnice v mm pro určení polohy na mřížce standardu
Rozměry destičky substrátu	4 x 4 mm
Použití	SEM, FESEM, FIB, Auger, SIMS a optická mikroskopie v odraženém světle
Označování	Identifikační číslo je vyleptáno do substrátu
Montáž	Základ je bez montáže, dodává se také na několika základních typech nosičů preparátu
Balení	Dodává se v Gel-Pack boxu
Certifikace	Certifikát vysledovatelnosti původu podle NIST