Kategorie produktů

Main menu

EM-Tec ST1 STEM imaging holder for TEM/FIB grids, M4-type, 1ks/bal

32 307 CZK / ks
bez DPH 26 700 CZK

Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.

Dostupnost: Na dotaz

Značka: Micro to Nano1

Záruka: 24

Kód produktu: 12-000380

EM-Tec ST1 STEM imaging holder for TEM/FIB grids, M4-type, 1ks/bal

EM-Tec ST1 STEM imaging holder for TEM/FIB grids umožňuje zobrazování STEM obrazu v mikroskopech SEM nebo FESEM. Síťka se vzorkem je umístěna v držáku a ten je nastavený pod svazek, typicky do středové polohy stolku. Tento držák využívá detektoru sekundárních elektronů v komoře vzorku SEM. Vzorek na síťce TEM je skenován elektronovým svazkem. Vytvořený STEM obraz se převádí na obraz v sekundárních elektronech tím, že prošlé elektrony narážejí na platinovou převodní desku. Takto vzniklé sekundární elektrony, které nesou STEM informaci, jsou zachyceny SE detektorem v komoře vzorku. Pro dosažení vyšší intenzity signálu se doporučuje používat vyšší urychlovací napětí (25-30 kV) a tenké vzorky. 

Detektor pro zobrazování STEM obrazů je vybaven nátrubkem z černé vodivé plastické hmoty, který je umístěn mezi pólový nástavec a EM-Tec ST1 STEM imaging holder. Ten absorbuje sekundární a zpětně odražené elktrony emitované povrchem vzorku.

Držák je vyroben z "vacuum grade" hliníku, mosazného držáku TEM síťky, platinové převodní desky a vodivého plastového nátrubku. Platina se používá pro konverzi signálu, protože emituje silný signál v oboru sekundárních elektronů, je stabilní a nepodléhá korozi. STEM imaging holder generuje dobrý signál z konvertovaných prošlých elektronů o výsledkem je STEM obraz s vysokým kontrastem.

Použití tohoto držáku dovoluje přidat k funkcím SEM na vašem pracovišti také zobrazování v modu STEM. A to vše za zlomek ceny jednoúčelových STEM detektorů dodávaných výrobcem SEM. Kvalita získaného obrazu je plně srovnatelná. Limitujícím faktorem je tloušťka vzorku a urychlovací napětí mikroskopu.

Rozměry EM-Tec ST1 STEM imaging holder: 19x15x29,5mm bez absobčního nátrubku. Výška držáku včetně nátrubku je 37,5mm.

Na doprovodném obrázku je zobrazena monomolekulární vrstva kobaltových nanočástic.

                        

TECHNICKÉ PARAMETRY

Toto je místo pro Vaši jakoukoli otázku, nejasnost, nebo upřesnění k tomuto konkrétnímu produktu.

Ověřovací kód
Do košíku

Přihlášení nebo registrace

Růžena Hanžlová

Čechova 448/8, Písek, 397 01

e-mail: obchod.elmi@centrum.cz

telefon/ záznamník / fax: 382 272 210

IČ: 123 95 625 DIČ: CZ5558101846

Naše firma vznikla na počátku devadesátých let minulého století. Fungujeme stále ve stejném složení. Máme odborné zázemí dané několikaletou praxí operátora skenovacího elektronového mikroskopu a hlavně servisního pracovníka elektronových mikroskopů TEM i SEM japonské firmy Jeol s aktivní praxí v trvání téměř 30 let.

V současnosti dodáváme zboží, které mají v nabídce firmy Agar (UK), Plano (DE), Graticules Optics Ltd - dříve PYSER (UK) a Micro to Nano (NL). Jsme neustále v kontaktu i s ostatními výrobci a dodavateli spotřebního materiálu a pomůcek pro všechny obory mikroskopie a portfolio spolupracujících firem se snažíme neustále rozšiřovat.

Zboží můžete vybírat z katalogu pomocí menu a jeho podkategorií. Dále si můžete vyfiltrovat zboží pomocí volby výrobce, dodavatele, nebo přímo vyhledáním konkrétního zboží pomocí vyhledávacího okénka. Zboží si také můžete seřadit podle různých kriterií.

Vytváří StudioMC na systému PublicMC s podporou MediaMC | © PublicMC 2005 - 2024