Kategorie produktů

Main menu

EM-Tec MCS-1CF certified calibration standard 2,5mm to 1um, mounted on custom stub

26 069 CZK / ks
bez DPH 21 545 CZK

Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.

Dostupnost: Na dotaz

Značka: Micro to Nano1

Záruka: 24

Kód produktu: 31-C31000-10

EM-Tec MCS-1CF certified calibration standard 2,5mm to 1um, mounted on custom stub

Micro-Tec MCS-1 calibration standard je vyvinut pro přesnou kalibraci stolních SEM, optických mikroskopů v režimu odraženého světla, kompaktních SEM a pro kalibraci středních a malých zvětšení na standardních mikroskopech SEM. Je vhodný pro rozsahy zvětšení od 10x do 20000x. Je tvořen přesně nanesenými vzory z chromu. Podkladem je vodivý ultra hladký křemíkový substrát. Velikosti jednotlivých obrazců na vzorku MCS-1 jsou: 2,5mm, 1,0mm, 250um, 100um, 10um, 5um, 2,5um,a 1um. Řada vzorků EM-Tec MCS-1CF je individuálně certifikován podle standardu NIST. Dodávají se buď bez nosiče, nebo namontované na nejběžních typech nosičů preparátů. 

Základní technické údaje:

Substrate  525µm thick boron doped ultra-flat wafer with <100> orientation
Conductive  Excellent; 5-10 Ohm resistivity
Pattern size  2.5 x 2.5mm
Features MCS-1 2.5, 1.0, and 0.5mm
250, 100, 10, 5, 2.5 and 1µm
Features MCS-0.1 with additional 500, 250 and 100nm
Features material  50nm Chromium for feature sizes 2.5mm to 2.5µm
50nm Gold over 20nm Chromium for size 1µm to 100nm
Traceable uniformity 0.2% or better
Certified uniformity 0.03%
Traceable uncertainty 0.7% or better
Certified uncertainty 0.09%
Traceability  Wafer level NIST traceability; average date measured on each production wafer
Certified  Optional; each certified EM-Tec MCS standard is individually
calibrated against a NIST measured standard
Application SEM, FESEM, FIB, Auger, SIMS and reflected light microscopy
Identification Product ID with serial number etched
Mounting Unmounted, mounting optionally available
Supplied  Supplied in a Gel-Pak box

Tento kalibrační standard je možné dodat také na nosiči vzorků podle speciálních požadavků uživatele. V takovém případě musí zákazník dodat příslušný nosič preparátů pro SEM.

TECHNICKÉ PARAMETRY

Toto je místo pro Vaši jakoukoli otázku, nejasnost, nebo upřesnění k tomuto konkrétnímu produktu.

Ověřovací kód
Do košíku

Přihlášení nebo registrace

Růžena Hanžlová

Čechova 448/8, Písek, 397 01

e-mail: obchod.elmi@centrum.cz

telefon/ záznamník / fax: 382 272 210

IČ: 123 95 625 DIČ: CZ5558101846

Naše firma vznikla na počátku devadesátých let minulého století. Fungujeme stále ve stejném složení. Máme odborné zázemí dané několikaletou praxí operátora skenovacího elektronového mikroskopu a hlavně servisního pracovníka elektronových mikroskopů TEM i SEM japonské firmy Jeol s aktivní praxí v trvání téměř 30 let.

V současnosti dodáváme zboží, které mají v nabídce firmy Agar (UK), Plano (DE), Graticules Optics Ltd - dříve PYSER (UK) a Micro to Nano (NL). Jsme neustále v kontaktu i s ostatními výrobci a dodavateli spotřebního materiálu a pomůcek pro všechny obory mikroskopie a portfolio spolupracujících firem se snažíme neustále rozšiřovat.

Zboží můžete vybírat z katalogu pomocí menu a jeho podkategorií. Dále si můžete vyfiltrovat zboží pomocí volby výrobce, dodavatele, nebo přímo vyhledáním konkrétního zboží pomocí vyhledávacího okénka. Zboží si také můžete seřadit podle různých kriterií.

Vytváří StudioMC na systému PublicMC s podporou MediaMC | © PublicMC 2005 - 2024