Používáním tohoto webu souhlasíte s využíváním cookies na těchto stránkách. Více informací ZDE. Rozumím

S2008 PLANOTEC Si test specimen, 5um grid (x/y), mounted on JEOL stub (10mm x 10mm)

zpět

Vaše cena: 2 099 CZK
1 735 CZK bez DPH
Počet bodů: 0
Množství: ks koupit
Doprava: Od 232 CZK možnosti dopravy
Dostupnost: Na objednávku - 4 týdny
Značka: PLANO
Kód produktu: S2008
Part No: S2008

S2008 PLANOTEC Si test specimen, 5um grid (x/y), mounted on JEOL stub (10mm x 10mm)

Tento vzorek je vyroben z monokrystalu křemíku, celkové rozměry jsou 5x5 mm. Na povrchu jsou elektronovým svazkem vyznačeny jasně viditelné čtverce s periodicitou 5 um +/-0,05 µm (obraz (b), tzn. hrana okna má délku 4µm. Dělící linie mají tloušťku cca 1 µm a jsou vyrobeny elektronovou litografií. Jejich hloubka je cca 250 nm. Každý testovací vzorek má unikátní seriové číslo. Širší čára je umístěna každých 500 um, což lze využít i ve světelné mikroskopii. Tento vzorek je výborný pro porovnávání zvětšení a zjišťování jakéhokoli zkreslení obrazu.

Ke každému testovacímu vzorku lze za poplatek cca. 77000,- CZK objednat také kalibrační protokol vystavený ústavem: Physikalisch Technischen Bundesanstalt PTB 

 

 

 

Toto je místo pro Vaši jakoukoli otázku, nejasnost, nebo upřesnění k tomuto konkrétnímu produktu.



napište nám

Ověřovací kód

newsletter

Budeme Vám posílat naše aktuality e-mailem!