EM-Tec P38 fixed 38° pre-tilt sample holder for FEI Dual Beam FIB system, dia.12,7mm x 17mm, pin type, 1 ks
Nákupem tohoto produktu získáte 0 kreditů.
EM-Tec P38 fixed 38° pre-tilt sample holder for FEI Dual Beam FIB system, dia.12,7mm x 17mm, pin type, 1 ks
Nosič vzorků EM-Tec P38 má pevný úhel 38° a je určen pro FEI pin stubs. Používá se pro FEI Dual Beam FIB system. Zajišťuje, že vzorek je orientován kolmo k ose FIB columnu a není potřeba naklánět stolek mikroskopu. Rozměry (bez trnu) jsou Ø12,7mm x 17mm.